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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > DUKE標(biāo)準(zhǔn)粒子 > 均勻尺度聚合物粒子
NIST溯源計(jì)量法測(cè)，苯乙烯-對(duì)苯二烯共聚物DVB尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒，用于激光散射儀器的驗(yàn)證。尺度均勻的苯乙烯-對(duì)苯二烯共聚物微粒，模擬真實(shí)環(huán)境中顆粒物的分布狀況
更新日期：2017-09-24
型號(hào)：2000
瀏覽量：2148
杜克標(biāo)準(zhǔn)粒子 熱電粒子 熱電標(biāo)準(zhǔn)粒子 thermo粒子 thermo標(biāo)準(zhǔn)粒子 賽默粒子 賽默標(biāo)準(zhǔn)粒子飛世爾粒子 飛世爾標(biāo)準(zhǔn)粒子 fisher粒子
更新日期：2016-08-14型號(hào)：Duke 2006A 2000系列瀏覽量：2937
杜克標(biāo)準(zhǔn)粒子 熱電粒子 熱電標(biāo)準(zhǔn)粒子 thermo粒子 thermo標(biāo)準(zhǔn)粒子 賽默粒子 賽默標(biāo)準(zhǔn)粒子飛世爾粒子 飛世爾標(biāo)準(zhǔn)粒子 fisher粒子
更新日期：2016-08-14型號(hào)：Duke 2005A 2000系列瀏覽量：3200
NIST溯源尺度標(biāo)準(zhǔn)，用于需要高度視覺(jué)反差的尺度標(biāo)和參考應(yīng)用領(lǐng)域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測(cè)和標(biāo)提供了便利的工具。產(chǎn)品的粒徑復(fù)合儀器廠家所需的各種規(guī)格。SURF-CAL系列產(chǎn)品完符合SEMI行業(yè)協(xié)會(huì)的建立的SSIS標(biāo)指導(dǎo)準(zhǔn)則， 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍， 覆蓋了半導(dǎo)體技術(shù)藍(lán)圖（ITRS）所義的關(guān)鍵質(zhì)控點(diǎn)
更新日期：2017-06-23型號(hào)：SURF-CAL尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒瀏覽量：2220
NIST溯源尺度標(biāo)準(zhǔn)，用于需要高度視覺(jué)反差的尺度標(biāo)和參考應(yīng)用領(lǐng)域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測(cè)和標(biāo)提供了便利的工具。產(chǎn)品的粒徑復(fù)合儀器廠家所需的各種規(guī)格。SURF-CAL系列產(chǎn)品完符合SEMI行業(yè)協(xié)會(huì)的建立的SSIS標(biāo)指導(dǎo)準(zhǔn)則， 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍， 覆蓋了半導(dǎo)體技術(shù)藍(lán)圖（ITRS）所義的關(guān)鍵質(zhì)控點(diǎn)
更新日期：2017-06-12型號(hào)：SURF-CAL尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒瀏覽量：2288
NIST溯源尺度標(biāo)準(zhǔn)，用于需要高度視覺(jué)反差的尺度標(biāo)和參考應(yīng)用領(lǐng)域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測(cè)和標(biāo)提供了便利的工具。產(chǎn)品的粒徑復(fù)合儀器廠家所需的各種規(guī)格。SURF-CAL系列產(chǎn)品完符合SEMI行業(yè)協(xié)會(huì)的建立的SSIS標(biāo)指導(dǎo)準(zhǔn)則， 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍， 覆蓋了半導(dǎo)體技術(shù)藍(lán)圖（ITRS）所義的關(guān)鍵質(zhì)控點(diǎn)
更新日期：2017-06-14型號(hào)：SURF-CAL尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒瀏覽量：2525
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